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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過(guò)靜態(tài)光散射的方法可測(cè)量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù)。經(jīng)國(guó)內(nèi)外眾多實(shí)驗(yàn)室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復(fù)雜溶液等體系理想的測(cè)試儀器。 |
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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是一 |
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| 多角度激光散射儀技術(shù)參數(shù)： 分子量測(cè)量范圍 500～109 Dalton 分子尺寸測(cè)量范圍 10～1000nm 散射體積 20nL 體積 樣品池100μL 背壓 最大3.5MPa（500psi） 角度 |
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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： BI-DCP是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過(guò)高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是分辨率和準(zhǔn)確率優(yōu)越的粒度儀。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。 詳細(xì)說(shuō)明： 工作原理 重力或者離心力使得懸浮在樣品轉(zhuǎn)盤(pán)腔內(nèi)的顆粒可以產(chǎn)生沉降或離心運(yùn)動(dòng)。大顆粒運(yùn)動(dòng)較快，小顆粒運(yùn)動(dòng)較慢，隨著時(shí)間的增加，大小顆粒自然分級(jí)并依次通過(guò) |
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| 簡(jiǎn)單介紹: 173Plus多角度粒度測(cè)試儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，即可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，是一款功能強(qiáng)大的粒度分析儀。 詳細(xì)說(shuō)明： Brookhaven公司應(yīng)用光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) |
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| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高約1000倍！ 詳細(xì)說(shuō)明： NanoBrook產(chǎn)品系列 項(xiàng)目 |
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